Mit SpecWin Pro 5.0 liefert Instrument Systems eine umfassende Lösung für spektrale Analysen und Lichtmesstechnik im Labor. Das Update vereint alle Spektrometer in einer Software mit benutzerfreundlicher Oberfläche. Erweiterte Goniometerfunktionen mit automatischer Justagekompensation und Sequence Calculator garantieren präzise Strahlcharakterisierungen. Die SMU-Integration beschleunigt VCSEL-Pulsmessungen mit Pulsdauern bis zehn Mikrosekunden. Das TOP300/CAS 140D-System inklusive View-Finder-Kamera optimiert Near-Eye-Display-Tests. Exportformate wie EULUMDAT, IES und Relux-kompatibles UGR-Reporting steigern die Effizienz und Flexibilität im täglichen Prüfablauf.
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Einheitliche Oberfläche steuert Spektrometer, Exporte, Normen und nahtlose UGR-Berechnung
Leuchte mit beidseitiger Abstrahlcharakteristik (Foto: Instrument Systems GmbH)
Mit SpecWin Pro 5.0 lassen sich sämtliche Spektrometer von Instrument Systems über eine einheitliche Benutzerumgebung bedienen, die eine übersichtliche Darstellung aller Messwerte und eine komfortable Auswertung gewährleistet. Das Update unterstützt die gängigen Exportformate EULUMDAT (LDT) und IES (IESNA LM-63), ergänzt um die CIE-Norm 190:2010 und eine präzise UGR-Berechnung für die Nutzung in Relux. Die abgestimmten Komponenten erhöhen die Genauigkeit und bieten flexible Anwendungsmöglichkeiten im Labor und beschleunigen Routineabläufe effizient zuverlässig.
Automatische Justagefehlerkompensation erhöht Präzision signifikant bei komplexen Abstrahlcharakteristiken deutlich
Mit dem neuen Sequence Calculator im Goniometer-Modul lassen sich mehrere Messreihen anhand unterschiedlicher Ausrichtungen des Prüfobjekts simultan verarbeiten, wodurch Lampen mit komplexer Abstrahlung in allen Winkeln umfassend analysiert werden können. Eine integrierte Kompensationsfunktion korrigiert Justageabweichungen automatisch und optimiert die Übereinstimmung zwischen den Sequenzen. Die Software berechnet den geringstmöglichen Verrechnungsfehler. Dank fortschrittlicher Interpolation entstehen hochaufgelöste Strahldaten, die ohne Nachbearbeitung in EULUMDAT- oder IES-Dateien exportiert werden, vollständig reproduzierbar und lückenlos speicherbar.
Nahtlose SMU-Anbindung in SpecWin Pro 5.0 für präzise VCSEL-Analyse
Mit SpecWin Pro 5.0 lassen sich schnell gepulste VCSELs mit Pulsdauern von bis zu zehn Mikrosekunden exakt charakterisieren, da die Software eine direkte SMU-Anbindung von Herstellern wie Keithley Instruments und Vektrex Inc. bietet. Anwender steuern Stromquelle und Spektrometer parallel über eine einzige grafische Oberfläche, wodurch externes Programmieren entfällt, Laboraufbauten vereinfacht werden und Messabläufe reproduzierbar sowie die Datenintegrität durch synchronisierte Steuerung sichergestellt ist. Zusätzlich erhöht die Lösung die Effizienz im Prüfprozess.
Arbeit mit TOP300-Equipment und CAS 140D optimiert Near-Eye-Kalibrierung präzise
Mit dem TOP300-Messzubehör erhalten Hersteller von AR/VR-Brillenkomponenten ein spezialisiertes Prüfwerkzeug für Near-Eye-Displays. Das Messsystem verbindet den kalibrierten High-End-Spektrometer CAS 140D zur Erfassung eines Winkelbereichs von ±1,2°, der das Sehkonstrukt des menschlichen Auges realitätsnah simuliert. Eine integrierte View-Finder-Kamera sorgt für genaue Positionierung des Prüflings, was eine hohe Wiederholbarkeit der Messungen gewährleistet und die Effizienz der Testverfahren signifikant erhöht. Anwender profitieren von automatisierter Alignment-Unterstützung, robusten Messergebnissen sowie deutlich reduzierter Zeitaufwand bei Kalibrierung.
Neue SpecWin Pro 5.0 Software steigert Effizienz und Messgenauigkeit
In SpecWin Pro 5.0 fasst Instrument Systems alle Spektrometermodule in einer benutzerfreundlichen Software zusammen, wodurch die Messpräzision erhöht und verschiedene Analyseverfahren zentralisiert werden. Erweiterte Goniometer-Funktionen inkl. Sequence Calculator und Fehlerkompensation erlauben detaillierte Strahlcharakterisierungen. Die verbesserte SMU-Ansteuerung ermöglicht Pulsdauern bis 10 µs für VCSEL-Messungen. Mit TOP300/CAS 140D und integrierter View-Finder-Kamera werden Near-Eye-Display-Prüfungen vereinfacht. Standardformate EULUMDAT, IES und Relaunch-Integration in Relux optimieren Reporting und Planung. Sie gewährleisten konsistente Dokumentation, nahtlose Datenverarbeitung sowie verbesserte Labororganisation.
